Ders Adı X-Işını Kırınımı ile İnce Film Analizi
Ders Kodu 408798ae58224d2d99
Dersin Türü Zorunlu
Ders Biriminin Seviyesi Lisansüstü
Yıl Hazırlık
Dönem 2.Yarıyıl
AKTS 6
Dersi Veren(ler) 3-Murat KALELİ
Dersin Yardımcıları 100-Durmuş Ali ALDEMİR
Dersin Öğrenme Çıktıları X Işını kırınımı ilkelerini öğrenmek İnce film yapılarını öğrenmek
Ders İşleme Biçimi Yüz Yüze
-
Dersin İçeriği Bu ders X-ışını üretimi ve manipülasyon kavramlarını içermektedir. XRD teknikleri ile ince filmlerin kristal yapı tanımını da içermektedir
Dersin Verildiği Diller Türkçe
Dersin Hedefleri X-Işını üretimini anlamak XRD prensiplerini öğrenmek Kristal yönelimlerini anlamak İnce film yapısını anlamak
Dersin Amacı İnce filmlerin analizi için X-Işını Kırınımı tekniğinin çalışma mantığını anlamak.
WorkPlacement YETEM Enerji Birimi Konferans Salonu
Hafta Konular  
1 X-Işını üretim yöntemleri
2 X-Işını kırınımı prencipleri I
3 X-Işını kırınımı prencipleri II
4 Kristal Yapılar I
5 Kristal Yapılar II
6 Kimyasal fazların belirlenmesi
7 Amorf ince filmler
8 Bragg-Brentano metodu
9 Toz Kırınımı Metodu
10 İnce film Kırınımı I
11 İnce film Kırınımı II
12 GI-XRD
13 X-Işınımı yansıtma (XRR)
14 Doku ve Tercih Edilen Oryantasyon
No Bölüm Öğrenme Çıktısı Katkı Düzeyi
1 Fizik ile ilgili bir çalışma alanında bilimsel araştırma yaparak bilgiye ulaşabilme, konu hakkındaki bilgisini derinleştirme, bu bilgiyi sorgulayarak değerlendirme, yorumlama, teorik hesaplama veya deneysel uygulamasını yapabilme yeterliklerine sahip olmak. 4
2 Çalışma konusu hakkındaki sınırlı veya eksik veri içeren bilgiye bilimsel yöntemleri kullanarak katkıda bulunmak, bu geliştirilen bilgiyi bilimsel, toplumsal ve etik değerlere uygun sorumlulukla kullanmak. 5
3 Alanındaki bir problemi ele alarak tanımlamak, çözüm için bir yöntem önermek ve bu problemi çözmek, sonuçları değerlendirmek ve gerektiği durumlarda bu sonuçları uzmanlık alanına uygulayabilmek. 5
4 Çalışma sürecinde öngörülemeyen ve karmaşık bir durumla karşı karşıya kalındığında sorumluluk alarak yeni stratejik yaklaşımlar geliştirmek ve çözüm üretmek. 4
5 Sözlü ve yazılı iletişim yapabilecek derecede en az bir yabancı dil bilmek. 5
6 Alanındaki güncel gelişmeleri takip etme, veri toplama, ilgili verileri işleyip yorumlama ve ulaşılan sonuçları duyurma aşamalarında bilimsel, toplumsal ve etik değerlere uymak ve bu değerleri denetlemek. 5
7 Çalışması ile ilgili gelişmeleri ve çalışma sonuçlarını bilimsel ortamlarda başkalarına yazılı veya sözlü şekilde rahatlıkla aktarmak. 4
8 Alanında özümsediği bilgiyi ve problem çözme becerisini farklı gruplar arasında yapılan ortak çalışmalarda kullanabilmek. 5
Yarıyıl İçi Çalışmaları Sayısı Katkı Payı
Ara Sınav 1 100
Kısa Sınav 0 0
Ödev 0 0
Devam 0 0
Uygulama 0 0
Labaratuvar 0 0
Proje 0 0
Atölye 0 0
Seminer 0 0
Arazi Çalışması 0 0
TOPLAM 100
Yıliçinin Başarıya Oranı 50
Finalin Başarıya Oranı 50
TOPLAM 100
AKTS kredilerinin belirlenmesinde öğrenci işyükü anketlerinden faydalanılmaktadır.
Etkinlik Sayısı Süresi Toplam
Ders Süresi (Sınav Haftaları Hariç) 14 3 42
Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi 15 4 60
Ödevler 3 15 45
Sunum 0 0 0
Proje 0 0 0
Laboratuar Çalışması 0 0 0
Arazi ya da Alan Çalışması 0 0 0
Ara Sınavlar 1 10 10
Yarıyıl Sonu Sınavı 1 10 10
İşyükü Saati (30) 30
Toplam İşyükü / Saat 0    
Dersin Akts Kredisi 0    
Ders Notu "Thin Film Analysis by X-Ray Scattering" Mario Birkholz. IHP Microelectronics GmbH Im Technologiepark 25 15236 Frankfurt (Oder) Germany E-mail: birkholz@ihp-microelectronics.com Thin Film Analysis and Technology www.thinfilm-at.com
Diğer Kaynaklar "Elements Of X Ray Diffraction",Cullity, B. D.,Addison-Wesley Publishing Company, Inc.
Materyal
Dökümanlar
Ödevler
Sınavlar
Materyal Diğer
Planlanmış Öğrenme Faaliyetleri ve Öğretim Yöntemleri
Konferanslar, Uygulamalı Dersler, Sunumlar, Seminerler, Projeler, Laboratuar Uygulamaları(gerekirse)